粒子缺陷检测仪

LSG F系列粒子缺陷直径检测仪
优化的光学系统设计,精确扫描并识别被测物边缘,高精度单周期数据采集,真实反应尺寸变化和表面缺陷;高速DSP数据处理系统确保无漏报、误报
  • 直径与表面缺陷同时检测,扫描频率可达9600Times/S;
  • 2轴、4轴扫描适应不同需求;
  • 单次测量精度高;
  • 自动校准,人性化操作。