从半导体激光器发出的激光光束被一个多面镜和一个平面镜反射。光束穿过一个准直F (θ)透镜。扫描目标物后，光束通过接收器透镜汇聚并转换成一个与接收光强度成正比的电子信号，根据光束被目标物遮断形成阴影的时间来计算目标物尺寸。

采用进口高速微型马达（高扫描频率）、军工级制程激光器（高准直性）、先进的非球面光学系统设计与加工、优化特定的边缘检测算法。测径仪扫描频率最高可达2400Times/S(单轴)，能精准识别被测物边缘，保证在一个测量周期内得到更多的被测物单个扫描值，高精度单周期精确数据采集能真实反应其尺寸变化和表面缺陷，能在很小的扫描间距内检出产品表面的粒子、漆瘤、气泡、砂眼等，当缺陷的尺寸大于最小检测间距时能被准确检出；尤其在扁平物测量方面，结合优化边缘算法，更能真实检测出其宽度和厚度，这是传统测量方法或低扫描频率检测仪器所不具备的。